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Quantitative lattice measurement of thin Langmuir-Blodgett films by atomic-force microscopy
D. K. Schwartz, J. Garnaes, R. Viswanathan, S. Chiruvolu, and J. A. N. Zasadzinski Physical Review E 47(1) 452 (1993) https://doi.org/10.1103/PhysRevE.47.452
Profile Structures of Macromolecular Monolayers on Solid Substrates By X-Ray Interferometry/Holography