Article cité par

La fonctionnalité Article cité par… liste les citations d'un article. Ces citations proviennent de la base de données des articles de EDP Sciences, ainsi que des bases de données d'autres éditeurs participant au programme CrossRef Cited-by Linking Program. Vous pouvez définir une alerte courriel pour être prévenu de la parution d'un nouvel article citant " cet article (voir sur la page du résumé de l'article le menu à droite).

Article cité :

Exoelectron emission studies of trap spectrum in ultrathin amorphous Si3N4 films

M. Naich, G. Rosenman, Ya. Roizin and M. Molotskii
Solid-State Electronics 48 (3) 477 (2004)
https://doi.org/10.1016/j.sse.2003.08.008

Auger mechanism of exoelectron emission in dielectrics with high electron affinity

M. Molotskii, M. Naich and G. Rosenman
Journal of Applied Physics 94 (7) 4652 (2003)
https://doi.org/10.1063/1.1608471

Exoelectron emission spectroscopy of silicon nitride thin films

G. Rosenman, M. Naich, M. Molotskii, Yu. Dechtiar and V. Noskov
Applied Physics Letters 80 (15) 2743 (2002)
https://doi.org/10.1063/1.1469656

Strong Visible Photoluminescence in Silicon Nitride thin Films Deposited at High Rates

Sadanand V. Deshpande, Erdogan Gulari, Steven W. Brown and S.C. Rand
MRS Proceedings 325 (1993)
https://doi.org/10.1557/PROC-325-177