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Structure-film thickness relationship study of sputtered NiO∕Ni bilayers using depth profiling and atomic force microscopy techniques
Brian Abbey, John D. Lipp, Zoe H. Barber and Trevor Rayment Journal of Applied Physics 99(12) 124914 (2006) https://doi.org/10.1063/1.2205556
In Situ Investigations into Chemical Processes by Electron‐Energy‐Resolved X‐Ray Absorption Spectroscopy
Antje Vollmer, John D. Lipp, Helmut Weiss, Rachel O'Malley and Trevor Rayment Angewandte Chemie International Edition 43(28) 3691 (2004) https://doi.org/10.1002/anie.200353235
In Situ Investigations into Chemical Processes by Electron‐Energy‐Resolved X‐Ray Absorption Spectroscopy
Antje Vollmer, John D. Lipp, Helmut Weiss, Rachel O'Malley and Trevor Rayment Angewandte Chemie 116(28) 3777 (2004) https://doi.org/10.1002/ange.200353235
In situ electron yield detection of X-ray absorption fine structure of electrodes continuously emersed from electrolyte solutions
Electron-yield x-ray absorption spectroscopy with gas microstrip detectors
Trevor Rayment, Sven L. M. Schroeder, Geoffrey D. Moggridge, et al. Review of Scientific Instruments 71(10) 3640 (2000) https://doi.org/10.1063/1.1290037
Simplified Model for Red Cell Dynamics in Small Blood Vessels