La fonctionnalité Article cité par… liste les citations d'un article. Ces citations proviennent de la base de données des articles de EDP Sciences, ainsi que des bases de données d'autres éditeurs participant au programme CrossRef Cited-by Linking Program. Vous pouvez définir une alerte courriel pour être prévenu de la parution d'un nouvel article citant " cet article (voir sur la page du résumé de l'article le menu à droite).
Microstructural defects in metalorganic vapor phase epitaxy of relaxed, graded InGaP: Branch defect origins and engineering
L. M. McGill, E. A. Fitzgerald, A. Y. Kim, et al. Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures 22(4) 1899 (2004) https://doi.org/10.1116/1.1775003
SiGe nanostructures: new insights into growth processes
Kinetic roughening of Si surfaces and surfactant effect in low temperature molecular beam epitaxy growth
B. Gallas, I. Berbezier, J. Derrien, et al. Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures Processing, Measurement, and Phenomena 16(3) 1564 (1998) https://doi.org/10.1116/1.589940
Surface roughening during low temperature Si(100) epitaxy
O. P. Karpenko, S. M. Yalisove and D. J. Eaglesham Journal of Applied Physics 82(3) 1157 (1997) https://doi.org/10.1063/1.365883